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XQFD-Ⅰ型反射式中心测定仪

XQFD-Ⅰ型反射式中心测定仪

日期:2019-02-07 人气:
XQFD-Ⅰ型反射式中心测定仪

用途:
  XQFD-Ⅰ型反射式中心测定仪可广泛用于光学镜片、透镜胶合组胶合,光学镜头制造过程中的监控及测定,是光学元件加工厂、光学仪器生产厂及科研机构大专院校计量单位必备的光学检测设备。

特点:
  此仪器采用反射定中心原理,测定精度高,测定范围广(±∞),工装的通用性强,操作与检测直观方便,为最终实现数字化测量创造了条件。

技术参数:

  1. 测量范围 ---------------------------------------- ∞~+∞

  2. 分划最小格值 ------------------------------------ C=0.0025mm/格

  3. 被检测光学件直径 -------------------------------- Ф1~Ф150

  4. 输入电压 ---------------------------------------- AC85V~260V

  5. 外形尺寸 ---------------------------------------- 370X270X800mm

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